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ハンディ型膜厚計測システム

 ボタン1つで多層膜厚をダイレクト計測!

ハンディ型膜厚計測システム

【特長】

・不透明材料の計測が可能な優れた透視力

・多層膜厚のダイレクト計測

・高い安全性

・ボタン1つで計測が可能なハンディ型

【用途】

・金属、非金属母材上の多層膜厚計測

・多層シートの厚み計測

・多層樹脂板の厚み計測

 米国TeraMetrix社製テラヘルツ波装置を使用したハンディ型多層膜厚計測システムです。
 テラヘルツパルスエコー法を使用することで、被測定物の厚みを直接計測することができます。

仕様

測定方式 テラヘルツパルスエコー法
被測定物までの距離 25mm または 75 mm (位置合わせユニット使用)
測定ヘッドサイズ 65×80×270 mm (ケーブル含まず)
測定ヘッド重量 2.0 kg (ケーブル5 mの場合)
テラヘルツ波主制御ユニットサイズ 452×555×205 mm
テラヘルツ波主制御ユニット重量 18 kg

測定原理

 発振機からテラヘルツパルス波を発振し、境界面から反射したパルス波が戻ってくるまでの時間差を計算し距離に換算し測定を行います。
 測定原理を下の図に示します。厚みdをもつ材料に対してテラヘルツパルス波を照射すると、材料の表面と裏面で反射した2つのパルス波が得られます。材料のもつ屈折率(材料特有の光学パラメータ)をn、パルス波の時間差を⊿t、光の速度をcとすると、厚みdは以下の式で求めることができます。
                  計算式

膜厚の測定原理
図:膜厚の測定原理.
材料表面と裏面で発生する反射パルスの
時間差から厚みを測定します.

システム構成

 本システムはテラヘルツ主制御ユニットと測定ヘッド、また被測定物と測定ヘッドの位置を固定するための位置合わせユニットから構成されます.

システム外観
図:システム外観.

 

システム結線図
図:システム結線図.

製品動画

ハンディ型塗膜厚計測装置.

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ダウンロード

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