取り扱い製品

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テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)システムキット

低価格でアレンジ可能なTHz-TDSシステムキット。

THz-TDS装置の構成例

【特長】

・様々な光学系にアレンジ可能

・自社開発による簡易光軸調整機構を搭載

・短時間のトレーニングで誰でも組立てアレンジ可能

・構成ユニット単位での販売

【用途】

・テラヘルツ時間領域分光測定

・物質の光学特性評価

 テラヘルツ時間領域分光法(THz-TDS)の実験用システムキットを提供いたします。標準システム構成だけでなく、お手持ちのレーザーや用途に合わせ、弊社スタッフが構成部品の選定・設計もいたします。イメージングや偏光測定、光源の変更など様々なオプションの選択やシステムのアレンジが可能です。多数の大学や研究機関に納品実績があり大変好評をいただいてます。 また光学定盤に組み立てるため、研究用途に適した製品となっています。

仕様

【本システムによるテラヘルツパルス波の計測例】

本システムによって得られたテラヘルツ波形とパワースペクトル.
図:本システムによって得られたテラヘルツ波形とパワースペクトル.

【主な仕様】

表:主な仕様一覧.

測定方式 テラヘルツ時間領域分光法
発振機・検出器 浜松ホトニクス(株)社製 光伝導スイッチモジュール
LT-GaAs
フェムト秒ファイバーレーザー 中心波長 785nm、パルス幅 <100fs、 光量 >50mW
測定量 電界強度の時間波形
解析値 透過/反射率、複素屈折率、複素誘電率(オプション)

 

標準システム構成

 テラヘルツ時間領域分光システムキットの基本構成は、一般的な透過型分光用の測定配置となっています。


図:標準システム構成.

表:本製品の標準システム構成ユニット一覧表.

フェムト秒レーザー 小型ファイバーレーザー(波長 785nm)
THz発振/検出ユニット 光伝導スイッチモジュール(LT-GaAs) レーザー集光レンズ、
光軸調整機構
THz集光光学系 放物面鏡 または THz領域対応プラスチックレンズによる照射検出
光学系
光路遅延ステージ 1軸機械式ステージ、ステージドライバー、リトロリフレクタ
THz波検出部 電流アンプ、NationalInstruments社製DAQボード
変調機構 ファンクションジェネレーター
レーザー伝搬光学系 ミラー、ビームスプリッター、各種ホルダー類
制御・計測用PC THz波形計測ソフトウェアインストール済みPC
開発環境:LabVIEW 出力形式:THz時間波形、パワースペクトル
光学定盤 卓上型光学定盤(サイズ 800×600 M6ねじ、ピッチ25mm)

光軸調整機構搭載 テラヘルツ波発振・検出ユニット

 本製品に含まれているテラヘルツ波発生・検出ユニットは、光伝導スイッチモジュールとレーザーの光軸調整機構を有しています。これによりレーザー集光用レンズや光伝導スイッチモジュールの光学調整が容易となるため、簡単にテラヘルツ時間領域分光システムを扱えます。

テラヘルツ波発生・検出ユニット.
図:テラヘルツ波発生・検出ユニット.

図:調整機構の調整幅.

調整軸 レーザー集光レンズ
調整機構
光軸調整機構
X ±6.5mm ±6.5mm
Y ±2.0mm ±6.5mm
Z ±2.0mm ±3.0mm

オプション例

 本製品はオプションとして、標準システムをカスタマイズすることが可能です。お手持ちのレーザーや用途に合わせた構成の変更を行っております。

表:オプション例.

THz発振/検出ユニット 光伝導アンテナの形状変更(ボウタイ、スパイラル)
光伝導アンテナの種類変更(高出力タイプ、ファイバー結合型
アンテナなど)
光源を非線形光学結晶へ変更
THz集光光学系 特注レンズ設計
光路遅延ステージ ガラススケールリニアエンコーダ内蔵高精度ステージ
THz波検出部 STANFORD RESEARCH SYSTEMS社製ロックインアンプ追加
変調機構 変調機構を光チョッパーへ変更
サンプル測定部 偏光子・波長板を用いた複屈折率解析
ロータリーステージによる反射率の角度依存性測定
2軸ステージによるイメージング測定
ガスパージユニット
反射・透過同時測定光学系 など
制御・計測用PC 複素屈折率・誘電率計算
ウェーブレット変換機能 など
アフターサービス 光学調整方法レクチャー
テラヘルツ波発生・検出光学系調整作業 など
 

【ダウンロード&関連文献】

テラヘルツ時間領域分光システムキット.pdf

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