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テラヘルツ波ペリクルビームスプリッター

テラヘルツ波パルスエコー必須アイテム!垂直入反射光学系を容易に実現!

文化財向け 非破壊計測・分析システム

【特長】

・テラヘルツ波に対応

・ペリクル型ビームスプリッター

・テラヘルツ波を逃がさない大口径サイズ

・専用マウント(オプション)

・反射・透過率の周波数特性がフラット

【用途】

・垂直入射垂直反射型THz-TDSシステム

 テラヘルツ帯に対応したペリクルビームスプリッターで、多重反射の影響を気にせず使用できます。また、テラヘルツ帯における反射率と透過率の周波数特性がフラットであるため、テラヘルツパルスの形状変化がありません。この特徴から、垂直入射-垂直反射型THz-TDSシステムに適合しやすいビームスプリッターです。


仕様・特性

【仕様】

タイプ ペリクル型ビームスプリッター
フレーム内径(有効径) 50.8 mm(2インチ)
フレーム外径 60.3 mm
フレーム厚 4.8 mm
温度範囲 -40~125℃

  ※上記サイズ以外にも対応可能ですのでご相談下さい。  

【反射率・透過率特性】

45度入射にて測定


反射率・透過率特性(45度入射時)

【オプション】

・専用マウント(2インチサイズは調整機構付マウント)

使用例

【垂直入射-垂直反射型光学系】
サンプルの垂直入射-垂直反射特性解析、テラヘルツ波パルスエコー測定への使用例です。


垂直入射-垂直反射光学系構築例

多重反射抑制効果

 本製品は薄膜を使用したビームスプリッターで、下図に示すようにプレート型で発生する不要な反射光(多重反射)が発生しません。

ペリクル型ビームスプリッター
図: ビームスプリッターの構成比較.

 本製品とプレート型ビームスプリッター(シリコンウェハビームスプリッター: 厚み0.4mm)での反射光を、THz-TDSシステムで計測した結果を示します。 時間波形では、プレート型ビームスプリッターで発生していた不要な反射パルスが本製品では発生しないことが確認できます。パワースペクトルでは, 不要な反射光による周波数に対する強度変調が発生しないことが確認できます。

ビームスプリッターの構造による反射光の違い.
図: ビームスプリッターの構造による反射光の違い.

関連製品

・テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)システムキット

 

ダウンロード

テラヘルツ波ペリクルビームスプリッターカタログ.pdf

 

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