
取り扱い製品
テラヘルツ分光システム
最速1000波形/秒、90dB以上の高感度のテラヘルツ時間領域分光システム!
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【特長】 ・速度・感度・安定性に優れたテラヘルツ波センサー ・ファイバー結合型システムによる送受信器の自由配置 ・光路長調整機能による自由な測定光学系 【用途】 ・THz-時間領域分光計測 ・産業用テラヘルツ波システムの開発実験 |
米国TeraMetrix社製の産業用ファイバー結合型テラヘルツパルス波計測装置をもちいた、テラヘルツ時間領域分光(THz-TDS)システムをご提供いたします。テラヘルツ波装置と計測用ソフトウェアをセットで納入するため、納入後はスイッチ1つでTHz-TDS計測を行うことができます。また、専門スタッフが在籍しておりますので、ご要望の測定やカスタマイズ関しても柔軟に対応いたします。
特長
これまでのファイバー結合型テラヘルツ波装置は、取得信号の安定性や測定光学系を自由に構築出来ないなどの課題を持っていました。産業用途に特化した本装置は、そのような従来のテラヘルツ波装置の課題を克服した以下の特長を持っています。
【高速・高感度・高安定性】
本装置は波形取得速度・感度に優れており、テラヘルツパルス波を最速1000波形/秒、感度>60[dB]で計測可能です。また産業用途に特化しているため、その取得信号は非常に安定しています。これらの特徴を活かし、経時変化を伴うサンプルの分光測定や短時間でのマッピング測定(要イメージングオプション)が可能です。またその高速性を活かし、短い時間で高S/Nの分光データを取得することも可能です。
図:平均回数による感度の比較
【光路長調整機構内蔵による自由な光学系構築】
従来のファイバー結合型テラヘルツ波装置は、テラヘルツ波送受信器が独立してはいるものの送受信機間の距離やサンプルの厚みに制限があり、測定光学系変更の際は装置の改造が必要でした。本装置はそれらの課題を解決するためにテラヘルツ波の光路長調整機構を有しているため、装置一台で様々な測定光学系を構築することが可能です。
仕様・特性
【基本構成】
本システムの基本構成は透過型THz-TDSシステムとなります。本装置を使用したTHz-TDSシステムは以下のようになります。
図:透過型THz-TDSシステム構成図
【主な仕様】
●テラヘルツ波主制御部ユニットの仕様
図:テラヘルツ波特性
参考:波形取得レート100Hz,測定時間幅320psec.の装置にて10000波形平均
測定光学系 | 透過型THz-TDS | ||||
レンズ | 焦点距離25mm,75mm,150mm及びコリメート。 その他のレンズについてはご相談下さい。 |
||||
テラヘルツ波 主制御部ユニット |
波形取得レート [波形/秒] |
1000 | 100 | ||
測定時間幅 [psec.] |
80 | 160 | 320 | 700 | |
テラヘルツ波発振帯域 | 最小 | <0.05 THz※ | |||
最大 | >3.5 THz※ | ||||
周波数幅 | >3.5 THz※ | ||||
ダイナミックレンジ | >90 dB※ | ||||
テラヘルツ波形時間分解能 | 0.1 psec. |
※10000波形平均時
●付属ソフトウェア
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気体の吸光度計測例 | 樹脂板の複素屈折率計算例 |
解析値 | テラヘルツ波パルスのリアルタイム表示及び保存機能 パワースペクトルのリアルタイム表示及び保存機能 透過率、吸光度のリアルタイム表示及び保存機能 複素屈折率、複素誘電率の計算機能 上記以外の解析についても対応可能ですのでご相談下さい。 |
システム構築例
本装置はファイバー結合型システムと光路長調整機構を搭載しているため、様々な測定システムに柔軟に対応することが出来ます。弊社が本装置にて構築したシステムの実例をご紹介いたします。
【透過型イメージングシステム】
本装置を使用した透過型イメージングシステムです。サンプルを平面走査ステージにマウントしテラヘルツ波をスキャンすることで、サンプルの透過率や複素誘電率の分布をマッピングすることができます。高速・高感度という特徴を活かすことで、高S/Nのイメージング測定を短時間でできるのが特徴です。
図:透過型イメージングシステム
【クライオスタットシステム+パージシステム+反射型光学系追加】
本装置を使用したクライオスタット分光システムです。測定光学系を自由に構築することが出来るという本装置の特徴を活かし、お客様所有のクライオスタットを使用して透過型・反射型の分光システムを構築しました。このようにお客様が所有する機器を使用しての測定光学系構築のご相談も承っております。
図:反射・透過型クライオスタット分光システム
デモ動画
Youtube:高速・高感度 THzパルス計測デモ動画 |
オプション
【例】
・反射型測定光学系追加
・パージシステム追加
・イメージングフレーム追加
ご要望の測定システムを構築いたしますので、お気軽にご相談下さい。
お気軽にお問い合わせ下さい。