テラヘルツ・赤外・非破壊・非接触検査装置のスペクトルデザイン：イメージギャラリー

イメージギャラリー

　　画像をクリックすると、計測物の構造やサイズ感、計測結果の説明などが表示されます。


樹脂ブロックの歪みの可視化　樹脂ブロックを加圧した状態で計測しました。樹脂内部の歪みが可視化されています。	粉体の軟質異物　粉体の中の軟質属異物を可視化した例です。	SDカード　SDカードの中身を画像化した例です。ケース越しに内部のICが可視化されます。

樹脂中の剥離　樹脂の内部に模擬的な剥離を発生させたサンプルを計測しました。剥離の厚さが計測されています。	抵抗率が異なるSiウエハの反射率　抵抗率が異なるSiウエハの反射率を計測した例です。抵抗率の違いが、反射率に反映されていることが分かります。	内壁中の固定材　室内の壁を模擬したサンプルを計測しました。壁内の固定用副資材（ビス、ステープル、接着剤）が可視化されています。

樹脂中の気泡　樹脂の内部に模擬的な気泡を発生させたサンプルを計測しました。気泡が可視化されています。	水に濡れたスポンジ　左半分が濡れたスポンジを計測しました。水はテラヘルツ波を吸収するため左半分は暗く描出されていま	RTDのビームプロファイル　共鳴トンネルダイオード（RTD)のビームプロファイルの計測例です。こちらの製品を使用して計測しました。